中國集成電路測試理論方法的研究與軟件工具開發(fā)--麗晶微定時IC、定時芯片

世界上半導體集成電路測試如今已形成三個領域，《1》測試系統(tǒng)的制造。《2》測試程序的開發(fā)與
檢測服務。《3》測試理論方法的研究志軟件工具開發(fā)。

在中國對集成電路測試理論與方法的研究以高等學校和研究所為主,如中科院計算所、復旦大學、杭
州電子工業(yè)學院、重慶大學、上海交通大學和北京自動化測試所。

研究的課題有多個方面，各種集成電路的測試生成方法，故障模擬方法，測試碼的評估與優(yōu)化，電路
的易測試分析，電路的層次性可測性設計，神經(jīng)網(wǎng)絡專家系統(tǒng)的方法等。同時研制了相應煌軟件系統(tǒng)，例
如：中科院計算所的大型數(shù)字電路測試生成系統(tǒng)，內(nèi)有SCTM可油性分析系統(tǒng)、CPTTG零件路徑跟蹤測試產(chǎn)生
系統(tǒng)、APPCPT平行碼臨界路徑跟蹤故障模擬系統(tǒng)等，復旦大學的數(shù)字集成電路層次式測試生成系統(tǒng)，電子科
技大學的基于神經(jīng)網(wǎng)絡的測試生成系統(tǒng)，重慶大學的微處理器功能測試序列自動生成系統(tǒng)等。一些軟件系統(tǒng)
曾為本單位設計新IC時產(chǎn)生過測試碼,如復旦大學的FD-3系統(tǒng)。多數(shù)軟件系統(tǒng)目前尚未完善成熟為產(chǎn)品。各單
位在研究者在國內(nèi)外發(fā)表過較多的論文，其中如臨界路徑跟蹤、主路徑敏化法等，在國際上引起重視，影響
良好。

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